販売中古装置情報

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TTC IDMakerメーカー型式Description品名・仕様年式台数対応製品
* 5INSama-com-A15200AMATAMATComplus MPinsp: Surface Inspection Systemスク&ウェーハ検査/12in20042
* 5INSama-uvi-A13686AMATAMATUvision 200SPInspection: Defect/ 12in欠陥検査装置/12in20051
* 5INSama-uvi-A13687AMATAMATUvision 200SPInspection: Defect/ 12in欠陥検査装置/12in20071
* 5INSama-uvi-A15201AMATAMATUvision 200SPinsp: Brightfield Wafer Inspection欠陥検査装置/12in20071
* 5INSasm-esc-P15080ASMLASMLESCAN400XPinsp: E-Beam Wafer inspectionE-Beam ウェハ欠陥検査装置2014-20153
* 5INSasm-esc-P15081ASMLASMLESCAN400insp: E-Beam Wafer inspectionE-Beam ウェハ欠陥検査装置20121
* 5INSbro-zar-P14458BrooksBrooksZARISInspector: Mask & Waferマスク・ウェハ検査装置Inq.1
* 5INScam-fal-H12802CamtekCamtekFalcon 620plusInspection: Wafer AOIウェーハ自動外観検査装置20081
* 5INSchr-190-V3941ChromaChroma19073Inspection: Pressure tester耐圧絶縁抵抗試験器Inq.1
* 5INSchr-inq-V3937ChromaChromaInq.Inspection: Pressure tester耐圧絶縁抵抗試験器Inq.1
* 5INScmi-sap-G12720CMItCMItSAPPAS -V5-plusInsp: PSS AOIPSS AOI20162
* 5INScmi-sap-G12721CMItCMItSAPPAS-V7Insp: PSS AOIPSS AOI20181
* 5INSdat-bms-P13336DATARAYDATARAYBMS2-4XYInsp: Slit beam profiler/Beam mapスキャニングスリットビームプロファイラ/BeatMap20171
* 5INSdkl-ru--R0168DKLDKLRU-700Inspection: Review/Defectディフェクトレビューユニット19951
* 5INSeik-l00-Q8309EIKO007/909EIKO007/909L0011Lamp.115V.PTCInsp: EpimetⅡ lamp/125V 250Wエピメットランプ/125V 250WInq.20
* 5INSele-lf -E12980Eleven electronEleven electronLF AOIInspection : Full-Auto L/F & MoldFull-Auto L/F & Mold inspection System20211
* 5INSgen-cl--Q10046Gentec-EO/thorlabsGentec-EO/thorlabsCL-25/MVL50M23INS:Beam profiler/Beamage-4Mビームプロファイラ一式20171
* 5INSham-c93-E4962Hamamatsu浜松ホトニクスC9334-01etcIns: FFP measurement unitFFP測定ユニットInq.1
* 5INShit-ls--Q12835Hitachi日立ハイテクLS-6030Inspection: Wafer Surface Inspection Systemウエハ表面検査装置1994.121
* 5INShit-pd--K8040Hitachi日立ハイテクPD-2000Inspection: Reticle Surfscanレチクル異物検査装置　19891
* 5INShit-u-2-Q6855Hitachi日立U-2000Insp: spectrophotometer分光光度計Inq.1
* 5INShit-u-2-Q6856Hitachi日立U-2010Insp: spectrophotometer分光光度計Inq.1
* 5INShit-u-3-A14885Hitachi日立U-3010Insp: Spectrometer分光光度計Inq.1
* 5INShit-u-3-Q14175Hitachi日立U-3410Insp: Spectrometer分光光度計Inq.3
* 5INShit-u-3-Q14176Hitachi日立U-3210Insp: Spectrometer分光光度計Inq.2
* 5INShit-wi--Q0156HITACHI日立WI-890Inspection/Wafer Visual /6in.ウエハ外観検査機/6in.19971
* 5INShit-z-5-Q6852Hitachi日立Z-5310Insp: spectrophotometer/flameフレーム原子吸光光度計Inq.1
* 5INShit-z-5-Q6853Hitachi日立Z-5010Insp: spectrophotometer/Zeemanゼーマン原子吸光光度計Inq.1
* 5INShmi-esc-A15181HMI/ASMLHMI/ASMLeScan310insp: Wafer inspectionウェハ検査装置20081
* 5INShor-ema-R0169Horiba堀場EMAX-5770Inspection: X-ray MicroanalyxerX線分析装置19951
* 5INShp-406-A5559HPHP4062UXInsp: Parametric TesterテストシステムInq.1
* 5INShym-mac-Q15167HymecハイメックMAC-310insp: Visual Inspection Equipment/12in.外観検査器/12in.20071
* 5INSinq-inq-Q11838Inq.Inq.Inq.Inspection: Wafer/4in.ウェハ検査装置/4in.Inq.1
* 5INSjai-jhs-Q8597JAI日本分析工業JHS-100Insp.: Purge & Trap Samplerパージ&トラップサンプラInq.1
* 5INSjas-v-7-Q14068JASCO日本分光V-770DSInsp: Spectrometer紫外可視近赤外線分光光度計20151
* 5INSjds-rm3-P5183JDSUJDSURM3750Ins: Optical Back Reflection Meter反射減衰測定器Inq.1
* 5INSjom-jmc-Q13799JOMESAJOMESAJMC 3.5insp: High depth of focus automatic contamination checker高焦点深度ｵｰﾄﾏﾁｯｸｺﾝﾀﾐ20181
* 5INSkey-cv--Q7586KeyenceキーエンスCV-X290AInsp: vision sensor画像センサ20182
* 5INSkey-lj--P14947KeyenceキーエンスLJ-X8060/8000insp: Optical Inspection Equipment光学検査装置Inq.1
* 5INSkla-213-A15303KLAKLA2132insp: Wafer inspection system/ 8inウェハ検査機/8in.Inq.1
* 5INSkla-arc-A14820KLAKLAArcher100insp: Overlay Metrology System/12in.オーバーレイ検査装置/12in.19971
* 5INSkla-can-A10318KLAKLACandela CS10RInspection equipment表面欠陥検査装置inq1
* 5INSkla-can-A13478KLA TencorKLAテンコールCandela8720Inspection: Surface Defect/4-6in表面欠陥検査装置/4-6in20171
* 5INSkla-can-G12093KLA TencorKLAテンコールCandela CS10RInspection/Defect表面欠陥検査装置Inq.1
* 5INSkla-cs9-A10210KLA TencorKLA TencorCS920Inspection device欠陥検査装置20151
* 5INSkla-edr-A13316KLAKLAeDr7280Inspection: E-Beam Wafer Defect Review電子ビームウェーハ欠陥レビューInq.1
* 5INSkla-es3-P6171KLA / TENCORKLA / TENCOReS32Inspection: Electron-beam/ Waferウエハ検査機20071
* 5INSkla-es--A5672KLAKLAES-32Inspection: Surface/12in.表面検査機/12in.Inq.1
* 5INSkla-kla-G10105KLA-TENCORKLA-テンコールKLA-5500Inspection system検査装置inq1
* 5INSkla-kla-G12514KLA TencorKLAテンコールKLA2135Inspection/Defect欠陥検査装置Inq.1
* 5INSkla-kla-P14046KLA-TencorKLAテンコールKLA2132Inspection: Defect欠陥検査機Inq.1
* 5INSkla-kla-P14457KLAKLAKLA2430Inspection: Defect欠陥検査装置20011
* 5INSkla-mic-P15261KLAKLAMicrovision 996M+Inspection System外観検査装置20183
* 5INSkla-sfs-A11947KLA-TencorKLA-TencorSFS 6420insp: Particle inspection/ 8in.パーティクル検査機/ 8in.19951
* 5INSkla-sfs-A6671KLA-TencorKLA-TencorSFS 7700insp: Particle inspection systemパーティクル検査機1994-19964
* 5INSkla-sfs-P6300KLA-TencorKLAテンコールSFS6200Inspection: Defect欠陥検査機Inq.1
* 5INSkla-sl3-P14696KLAKLASL3UVinsp: Mask?Inspection Systemマスク検査システムInq.1
* 5INSkla-sur-A5552KLAKLA-TencorSURFSCAN 7700Inspection: Particle AnalyzerパーティクルアナライザInq.1
* 5INSkob-mis-Q15169KobelcoコベルコMIS-3020Ｚinsp: Magic Mirror/12in.魔鏡/12in.20081
* 5INSkon-cs--S4414Konica MinoltaコニカミノルタCS-2000AInsp: Spectroradiometer光学測定器20141
* 5INSlas-2pg-A13689LASERTECLASERTEC2PG20Inspection: Mask/ 12inMask Inspection/12in20071
* 5INSlei-mis-A0985LeicaライカMIS-200Inspection/Defect欠陥検査機Inq.1
* 5INSmat-μra-W14610Matsusada Precision松定プレシジョンμRay8400-LM 90Insp: X-Ray Inspection SystemマイクロフォーカスX線顕微鏡（X線透過装置）20091
* 5INSmit-m-p-E11165MitutoyoミツトヨM-Plan Apo 5XINS:microscope objective lens金属顕微鏡対物レンズinq.1
* 5INSmit-m-p-E11166MitutoyoミツトヨM-Plan Apo 10XINS:microscope objective lens金属顕微鏡対物レンズinq.1
* 5INSmit-m-p-E11167MitutoyoミツトヨM-Plan Apo 20XINS:microscope objective lens金属顕微鏡対物レンズinq.1
* 5INSmit-m-p-E11168MitutoyoミツトヨM-Plan Apo SL50XINS:microscope objective lens金属顕微鏡対物レンズinq.1
* 5INSmor-t29-Q13800Morigo Seiki森合精機T29801-7877insp: Contamination sampling device Φ430コンタミ採取装置Φ43020181
* 5INSnan-rpm-A13205NanometricsナノメトリクスRPM 2000insp: Photoluminescence MapperPhotoluminescence Mapper20011
* 5INSnew-708-P5186Newportニューポート708 8-ChannelIns: Butterfly FixtureButterfly FixtureInq.2
* 5INSnik-gp--Q10041Nikkaニッカ電測GP-1-TINS:Goniophotometerゴニオフォトメータ20161
* 5INSnik-opt-P15242NikonニコンOPTISTATION-3100Insp: Wafer Inspection systemウェハ検査装置Inq.1
* 5INSnss-rxw-Q15141NSSNSSRXW-0857Zinsp: Edge Inspector/8in.エッジ検査器/8in.20061
* 5INSoly-usp-B14611OlympusオリンパスUSPM-RU-1700Insp: Spectrometer近赤外分光反射率測定機Inq.1
* 5INSorc-mem-E13541ORCオーク製作所MEM-5296Dinsp: Bump height measurement system自動バンプ高さ測定器Inq.1
* 5INSosi-met-A5561OSIOSIMETRA 2100mInspection: Overlay/6"重ね合わせ測定機/6"Inq.1
* 5INSosi-met-A5562OSIOSIMETRA IIInspection: Overlay/6"重ね合わせ測定機/6"Inq.1
* 5INSoxf-azt-A4595oxfordoxfordAztec X-Max 80TInsp: EDS for TEMEDS for TEM(分光)20161
* 5INSpar-3d--G11826PARMIPARMI3D-XCEEDInspection: AOI自動光学検査装置Inq.1
* 5INSper-aan-P15347PerkinElmerPerkinElmerAanalyst 200Ins: Atomic absorption spectrometer原子吸光分析装置20091
* 5INSper-lam-P5176Perkin ElmerPerkin ElmerLambda 900Ins: Spectrometer分光計Inq.1
* 5INSper-sim-A5678PerkinElmerPerkinElmerSIMAA6000Ins: Atomic absorption spectrometer原子吸光分析装置Inq.1
* 5INSphi-ir3-A5670PhilipsフィリップスIR3100Ins: Infrared depth measuring systems/12in.赤外線深度測定システム/12in.Inq.2
* 5INSrig-363-A15305RIGAKUリガク3630insp: XRF/ 8inXRF/ 8inInq.1
* 5INSrig-fsa-Q15158RigakuリガクFSASⅡinsp: X-ray/12in.X線/12in.20071
* 5INSrsv-ws--P9029RSVI InspectionRSVI InspectionWS-3800Inspection: waferウェハ検査装置20081
* 5INSrud-dra-P14263RudolphルドルフDragonfly G2Inspection: defect/3D3D欠陥検査装置20181
* 5INSrud-nsx-G12510RUDOLPHルドルフNSX100Inspection/Defect/6in欠陥検査機/6inInq.1
* 5INSrud-nsx-L12820Rudolph / AugustRudolph / AugustNSX-85Insp: Automated Defect Inspection System欠陥検査装置Inq.1
* 5INSrud-nsx-P14262RudolphルドルフNSX320bInspection: defect/2D2D欠陥検査装置2015-20162
* 5INSrud-nsx-P14264RudolphルドルフNSX330bInspection: AOIAOI/外観検査装置20161
* 5INSrud-nsx-P14265RudolphルドルフNSX330Inspection: AOIAOI/外観検査装置20171
* 5INSsan-mi--R0165SANWA三和無線測器MI-476Inspection: Oxide Film Evaluation Tool酸化膜評価装置Inq.1
* 5INSsan-sx--L0412Sanseidenshi三生電子SX-5187Inspection/Temperature /SMD Quartz常温検査機/SMD水晶Inq.1
* 5INSsci-300-Q9961Scitec instrumentsScitec instruments300CDInsp: Optical chopperオプティカルチョッパーinq1
* 5INSsci-420-Q9960Scitec instrumentsScitec instruments420Insp: lock-in amplifierロックインアンプinq1
* 5INSsec-x-e-G7721SECSECX-EYE 3000AInspection machine分析装置20071
* 5INSsei-sea-C0807SeikoセイコーSEA1000AInspection: XRF蛍光X線分析装置Inq.1
* 5INSshi-edx-Q8842Shimazu島津EDX-800HS2Inspection: EDXEDX/Ｘ線分析装置Inq.1
* 5INSshi-irs-Q13805Shimadzu島津製作所IRSpirit-TInsp: Spectrometer(FTIR)フーリエ変換赤外分光光度計(FTIR)20191
* 5INSshi-uv--Q9883Shimadzu島津UV-2400INS:spectrophotometer分光光度計inq2
* 5INSsig-waf-A14010SIGOLDSIGOLDWafer AVI 330Inspection: AOIAOI外観検査装置20201
* 5INSsof-sfx-L11359SOFTEXSOFTEXSFX-90Inspection:X-RAYX線検査20181
* 5INSspt-inq-F11314SPTSSPTSinq.INS:APM process moduleAPMプロセスモジュール20111
* 5INSsur-ys--L12808SURUGA SEIKI駿河精機YS-1100Insp: YAG Welding Alignment SystemYAG溶接調芯システムInq.1
* 5INStos-tos-S4405Toshiba itc東芝ITコントロールシステムズTOSMICRON　6130FPInspection:X-rayX線装置Inq.1
* 5INStoy-t-x-Q15129ToyoトーヨーエイテックT-XG450-8Minsp: X-ray/8in.X線/8in.20021
* 5INStoy-t-x-Q15159ToyoトーヨーエイテックT-XG450-12Minsp: X-ray/12in.X線/12in.20071
* 5INSvee-d15-A13990VeecoVeecoD150Inspection: Profilometer段差計Inq.1
* 5INSvee-dek-A13989VeecoVeecoDektak3STInspection: Profilometer段差計19991
* 5INSvee-dek-A15345VeecoVeecoDEKTAK-VI-200ins: Profilometer触針式表面形状測定器Inq.1
* 5INSvis-lds-A1328VistecVistecLDS3300MInspection/Defect表面欠陥検査装置Inq.1
* 5INSvis-lds-A5671VistecVistecLDS3300MInspection: Surface/12in.表面検査機/12in.Inq.1
* 5INSvj -ver-L12430VJ ElectronixVJ ElectronixVertex II Model V90Inspection system: X-RayX線検査システム20171
* 5INSyok-aq2-Q7519Yokogawa横河電機AQ2105Ins: Multi meter光マルチメータ19881

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