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| TTC ID | Maker | メーカー | 型式 | Description | 品名・仕様 | 年式 | 台数 | 対応製品 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| * | 5MEAade-603-H9688 | ADE | ADE | 6034 | Measuring Instrument/Thickness | 厚み測定器 | inq. | 1 | |
| * | 5MEAade-ax--N0645 | ADEX | アデックス | AX-170A | Measure/Rs | 抵抗率測定器 | Inq. | 1 | |
| * | 5MEAavi-tvs-Q7542 | Avionics | 日本アビオニクス | TVS-8500 | Meas: Infrared thermography | 赤外線サーモグラフィ | 2005 | 1 | |
| * | 5MEAbio-q8-A0986 | BIO-RAD | BIO-RAD | Q8 | Measurement/Overlay | 重ね合わせ測定機 | Inq. | 1 | |
| * | 5MEAcde-res-P14336 | CDE | CDE | ResMap | mea: Four Probe Resistance Tester | 抵抗率測定装置 | 2021 | 1 | |
| * | 5MEAdns-lam-Q13493 | DNS | 大日本スクリーン | Lambda_A VM2010 | Measuring: Optical interference film thickness/6in. | 光干渉式膜厚測定器/6in. | 2000 | 1 | |
| * | 5MEAdns-vl--Q0159 | DNS | 大日本スクリーン | VL-M6000 | Measurement/Thickness /6in. | 膜厚測定器/6in. | 1993 | 1 | |
| * | 5MEAdns-vl--Q0160 | DNS | 大日本スクリーン | VL-M6000 | Measurement/Thickness /6in. | 膜厚測定器/6in. | 1995 | 1 | |
| * | 5MEAeta-nt5-Q5785 | ETAC | ETAC | NT510 | mea: Temperature cycle tester | 環境試験機 | Inq. | 1 | |
| * | 5MEAev -evg-M11917 | EV Group Europe & Asia/Pacific | EV Group | EVG40NT | Measurement/Semi-Automated | 計測・検査装置 | Inq. | 8 | |
| * | 5MEAfil-f54-A14384 | Filmetrics | Filmetrics | F54-XY-200-UV | meas: Optical Film Mapper/6in. | 光学式フィルムマッパー/6in. | Inq. | 1 | |
| * | 5MEAfis-xdv-E14004 | FISCHERSCOPE | FISCHERSCOPE | XDVN-W | Measurement: Film thickness/Fluorescent X-ray | 蛍光Ｘ線膜厚測定/分析装置 | Inq. | 1 | |
| * | 5MEAfis-xmd-C0904 | FISCHER | FISCHER | XMDVM-T7.1-W | Measurement/Thickness | 膜厚計測 | Inq. | 1 | |
| * | 5MEAflu-51-Q7400 | Fluke | フルーク | 51 | Meas: thermometer | ディジタル温度計 | Inq. | 1 | |
| * | 5MEAfsm-128-P14335 | FSM | FSM | 128NT | mea: Stress measurement system | 薄膜応力測定機 | Inq. | 1 | |
| * | 5MEAhan-hpt-H15329 | HANRA PRICISION | HANRA PRICISION | HPT-430S | meas: HEATER CHECKER | ヒーター検査装置 | 2018 | 1 | |
| * | 5MEAhel-xdl-P9675 | HelmutFischer | HelmutFischer | XDL-B | MEA:film thick test instrument | 膜厚測定装置 | 2008 | 1 | |
| * | 5MEAhit-ft1-P14127 | Hitachi | 日立ハイテク | FT160L | Measurement: Film thickness/Fluorescent X-ray | 蛍光X線膜厚計 | Inq. | 1 | |
| * | 5MEAhm-901-N0647 | HM | HM | 9010 | Measure/Rs | 抵抗率測定器 | Inq. | 2 | |
| * | 5MEAhmt-mfs-A10548 | HMT | HMT | MFS-630 | MEA:Distributed Bragg Reflector | 分散型ブラッグリフレクター | inq | 1 | |
| * | 5MEAhoz-dt--Q7428 | Hozan | ホーザン | DT-510 | Meas: thermometer | ディジタル温度計 | Inq. | 1 | |
| * | 5MEAhp-815-P5181 | HP | HP | 8153A | Meas: Optical Power Meter | 光マルチメーター | Inq. | 2 | |
| * | 5MEAinq-le1-Q7362 | Inq. | Inq. | LE12520RNN | Meas: Temperature recorder | 温度記録ユニット | 2000 | 1 | |
| * | 5MEAinq-tvs-Q7363 | Inq. | Inq. | TVS-110 | Meas: Handy thermo | ハンディサーモ | 2000 | 1 | |
| * | 5MEAkei-700-A9023 | Keithley | Keithley | 7001 | Meas: Switch Control Unit | Switch Control Unit | Inq. | 1 | |
| * | 5MEAkei-700-A9024 | Keithley | Keithley | 7001 | Meas: Switch Control Unit | Switch Control Unit | Inq. | 1 | |
| * | 5MEAkla-501-G10106 | KLA-TENCOR | KLA-テンコール | 5011 | MEA:Washing | Washing | inq | 1 | |
| * | 5MEAkla-ase-P15086 | KLA | KLA | ASET-F5X | Measurement: Film thickness | 膜厚測定機 | 2005-2006 | 2 | |
| * | 5MEAkla-rs7-A15304 | KLA | KLA | RS75 | meas: Resistivity Mapping System/ 8in | シート抵抗マッピング装置/8in. | Inq. | 2 | |
| * | 5MEAk-m-stc-P3226 | K-Mac | K-Mac | STCM-7392AGL | Meas: Optical film thickness/Rs Meter+Color | 抵抗/彩度/光学フィルム厚さ測定機 | 2012 | 1 | |
| * | 5MEAmet-tma-L10741 | Mettler Toledo | メトラー・トレド | TMA SDTA 1 LF/1100 | Meas: Thermo-Mechanical Analyser | 熱機械分析装置 | 2014 | 1 | |
| * | 5MEAnan-pl -A14465 | Nanometrics | ナノメトリクス | PL RPM Blue | meas: Photoluminescence Mapping System | フォトルミネッセンス（PL）マッピング装置 | 2000 | 1 | |
| * | 5MEAnap-nap-A14166 | NAPSON | ナプソン | NAP-NC-80MAP(RS) | measurement: Non-Contact type resistance measurement | 非接触式抵抗率/シート抵抗測定器 | 2012 | 1 | |
| * | 5MEAnap-rt--H9689 | NAPSON | ナプソン | RT-70V | Mea:Resistivity meter | 抵抗測定装置 | inq. | 2 | |
| * | 5MEAnap-rt--P9674 | NAPSON | ナプソン | RT-70 | MEA:resistivity meter | 抵抗測定装置 | 1990 | 1 | |
| * | 5MEAnor-lms-8979 | North Sutton NH | North Sutton NH | LMS-050CM | Meas: Labsphere | Labsphere | Inq. | 1 | |
| * | 5MEAoly-ar2-P3232 | Olympus | オリンパス | AR2060 | Measure: Line width/MCD | 線幅測定機/MCD | 2012 | 1 | |
| * | 5MEArev-rvx-A13688 | REVERA | REVERA | RVX1000 | Measurement: Film thickness 12in | 膜厚検査装置/12in | 2007 | 1 | |
| * | 5MEArud-met-A14177 | Rudolph | ルドルフ | MetaPULSE G | Measurement: Film thickness/6in | 膜厚測定機/6in | 2020 | 1 | |
| * | 5MEArud-met-F11313 | RUDOLPH | ルドルフ | metapulse@200 mm | Measuring instrument/Metal film thickness | 金属膜厚測定器 | 2003 | 1 | |
| * | 5MEArud-mp3-A2901 | Rudolph | Rudolph | MP300 | Meas./Thickness | 金属膜厚測定器 | Inq. | 1 | |
| * | 5MEArud-mp3-A5669 | Rudolph | ルドルフ | MP300 | Meas./film thickness 12in. | 膜厚測定システム/12in. | Inq. | 1 | |
| * | 5MEAsci-fil-A10547 | SCI | SCI | FilmTek 1000 | MEA:Filmtek | Filmtek | inq | 1 | |
| * | 5MEAsci-fil-A14995 | SCI | SCI | FilmTek 1000 | Measuring: Film Thickness | 膜厚測定機 | 2010 | 1 | |
| * | 5MEAsha-mod-Q6503 | SHAW | SHAW | MODEL SHA | meas: Dew point meter | 露点計 | 1991 | 1 | |
| * | 5MEAsks-sk--Q7457 | skSATO | 佐藤計量器製作所 | SK-1100/SK-K010 | Meas: thermometer | ディジタル温度計 | Inq. | 1 | |
| * | 5MEAsks-sk--Q7458 | skSATO | 佐藤計量器製作所 | SK-1250MCⅢ | Meas: thermometer | ディジタル温度計 | Inq. | 1 | |
| * | 5MEAtek-lx4-8978 | TEKNOLOGUE | TEKNOLOGUE | LX4670B | Meas: Control Unit | Control Unit | Inq. | 1 | |
| * | 5MEAysy-ywa-A10740 | Ysystems | Ysystems | YWAFER Mapper GS2 | Meas: PL Mapper/2-4in | PLマッパー/2-4in | 2006-2010 | 2 |
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