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| TTC ID | Maker | メーカー | 型式 | Description | 品名・仕様 | 年式 | 台数 | 対応製品 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| * | 5OTHadi-asm-G10182 | Adixen | Adixen | ASM GRAPH D+ | OTH:Leak Detector | リークディテクタ | inq | 2 | |
| * | 5OTHagi-e36-P14826 | Agilent | アジレント | E3646A | other: DC Power Supply | DC電源 | Inq. | 16 | |
| * | 5OTHall-mul-P15009 | Allied | Allied | Multiprep Prep(10-1000) | other: precision Polishing System | 精密ポリッシングシステム | 2014 | 1 | |
| * | 5OTHama-vsb-G10183 | AMAT(Varian) | アプライド・マテリアルズ | VSBD302 | OTH:Leak Detector | リークディテクタ | inq | 1 | |
| * | 5OTHanr-mg5-L0467 | Anritsu | アンリツ | MG545A | Other: Synthesizer | シンセサイザ | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHas -hs--N0249 | AS ONE | アズワン | HS-50D | Other: Magnetic Stirrer | マグネチックスターラー | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHas -th--P14160 | As one | アズワン | TH-321 | other: Thermometer/hygrometer | 温湿度計 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHasi-el--L10559 | ASIC | ASIC | EL-A | OTH: ELECTROLUMINESCENCE TESTER | エレクトロルミネッセンス・テスター | inq | 2 | |
| * | 5OTHasi-scs-L11105 | ASIC SHANGHAI | ASIC SHANGHAI | SCSS-EL02 Plus | OTH:EL Tester | ELテスタ | inq. | 1 | |
| * | 5OTHb&w-bwr-Q9958 | B&W TEK inc + Sigma | B&W TEK inc | BWR-20E/55869 | OTH:1064 nm laser | 1064nmレーザ | inq | 1 | |
| * | 5OTHbro-lvd-Q8666 | Brookfield | ブルックフィールド | LVDV-2+PRO-CP | other: Viscometer | 粘度計 | 2005 | 1 | |
| * | 5OTHbsc-sh4-Q7536 | BSC Filters | BSC Filters | SH4457 | oth: High pass filter | ハイパスフィルタ | 2007 | 1 | |
| * | 5OTHbsc-sh4-Q7537 | BSC Filters | BSC Filters | SH4458 | oth: High pass filter | ハイパスフィルタ | 2007 | 1 | |
| * | 5OTHbsc-xn4-Q7543 | BSC Filters | BSC Filters | XN4455 | oth: Notch filter | ノッチフィルタ | 2007 | 1 | |
| * | 5OTHbsc-xn4-Q7544 | BSC Filters | BSC Filters | XN4456 | oth: Notch filter | ノッチフィルタ | 2007 | 1 | |
| * | 5OTHbue-n10-Q13877 | BUEHLER | ビューラー | N1000 | other: Vacuum Impregnation Equipment | 真空含浸装置 | 2010 | 1 | |
| * | 5OTHcan-850-Q7353 | Canon | キヤノン | 850670H-0312 | Other: LABVIEWUPGRADE | L負荷用LABVIEWUPGRADE | 2000 | 1 | |
| * | 5OTHcat-adv-Q7420 | CATC | CATC | Advisor | Oth: USB 2.0 Bus & Protocol Analyzer | USB2.0バス&プロトコルアナライザ | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHcbc-vm--Q8667 | CBC | CBC | VM-10A-M | other: Viscometer | 粘度計 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHcho-uj--Q6509 | Cho-onpa | 超音波工業 | UJ-246-1C | other: Wire pulltester | ワイヤープルテスター | 1991 | 1 | |
| * | 5OTHchr-ja--A10535 | ChromTech | ChromTech | JA-5103N | OTH:Electronic Balance | 電子天秤 | 1997 | 1 | |
| * | 5OTHcom-32m-Q7386 | COMPUTEX | コンピューテックス | 32M41 | Oth: In-circuit debugger | インサーキットデバッガ | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHcos-ls--Q14413 | Cosmo keiki | コスモ計器 | LS-1866 | other: Leak tester | 差圧式リークテスター | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHcus-ct--P14161 | CUSTOM | CUSTOM | CT-450WR | other: Digital thermometer | デジタル温度計 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHdag-240-C11018 | DAGE | DAGE | 2400A | OTH:WIRE PULL TEST MACHINE | ワイヤープル試験機 | 2006 | 1 | |
| * | 5OTHdag-300-M11701 | DAGE | DAGE | 3000 | oth: Wire pull Tester | ワイヤープルテスタ | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHdag-dag-A14913 | DAGE | DAGE | Dage-4000pxy | oth: Bonding tester | ボンディングテスタ | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHdat-alp-A1714 | Data Systems | Data Systems | ALP-7012LA | Other: LD DRIVER | LD DRIVER | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHdit-rdf-K6336 | Ditect | ディテクト | RDF-D3 | Other: Hi-speed camera | ハイスピードカメラ | 2010 | 1 | |
| * | 5OTHesp-tsa-E7102 | Espec | エスペック | TSA-71H-W | other: Thermal shock tester | 冷熱衝撃試験装置 | 2001 | 1 | |
| * | 5OTHesp-tsa-L12812 | ESPEC | エスペック | TSA-70L-A | other: Thermal Shock Chamber | 冷熱衝撃試験装置 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHesp-vac-A14997 | ESPEC | ESPEC | VAC-300PR | other: Oven | 真空オーブン | 2010 | 1 | |
| * | 5OTHeta-nt2-R5462 | ETAC | エタック/楠本化成 | NT2031W | Other: Temperature Cycle Chamber | 熱衝撃試験機 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHeve-kf--P0849 | Everfine | Everfine | KF-2 | Other: Switching Transistor Selector | 環境選別器 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHeve-kf--P0850 | Everfine | Everfine | KF-2 | Other: Switching Transistor Selector | 環境選別器 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHfuj-ape-Q9489 | fujita | 藤田製作所 | APE-PWIGBT | OTH:Bias tester | 高温高湿負荷バイアス試験装置 | 2010 | 1 | |
| * | 5OTHfuj-fth-Q7342 | Fujita | 藤田製作所 | FTH-100 | other: Tharmalfet tester | THERMALFET試験装置 | 2000 | 1 | |
| * | 5OTHfuk-msx-L0414 | FUKUDA | フクダ | MSX-5086 | Other: Leak Detector | リークディテクタ | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHgia-inq-A0929 | Giant Force Instrument Enterprise | Giant Force Instrument Enterprise | Inq. | Other: High / low temperature test equipment | 高低温試験装置 | 2012 | 1 | |
| * | 5OTHhac-210-K9970 | HACH | HACH | 2100P | OTH:Turbidimeter | 濁度計 | inq | 1 | |
| * | 5OTHhay-laa-K6048 | Hayashi-Repic | ハヤシレピック | LAA-150UE | other: Light Source | 光源装置 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHhay-lum-K6047 | Hayashi-Repic | ハヤシレピック | Luminar Ace | other: Light Source | 光源装置 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHhil-cht-V3936 | HILA | HILA | CHT-6A | Other: Thermometer | 電子温湿度計 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHhio-312-Q7401 | Hioki | 日置電機 | 3127 | Other: Clamp on tester | クランプオンテスタ | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHhio-315-Q10400 | HIOKI | HIOKI | 3158 | OTH:Voltage HiTester | 耐圧試験装置 | 2007/2010/2013/2015 | 5 | |
| * | 5OTHhio-380-Q7501 | Hioki | 日置電機 | 3805 | other: High Tester | ディジタルハイテスタ | 2005 | 1 | |
| * | 5OTHhio-981-P14162 | HIOKI | 日置電機 | 9810 | other: Thermocouple | 熱電対 | Inq. | 2 | |
| * | 5OTHhir-pc--Q6508 | Hirayama | 平山製作所 | PC-204RⅢ | other: Pressurecooker | ﾌﾟﾚｯｼｬｰｸｯｶｰ | 1990 | 1 | |
| * | 5OTHhit-ec--Q9488 | Hitachi | 日立アプライアンス | EC-45MHPS | OTH:temperature and humidity Testing Chamber | 恒温恒湿試験装置 | 2010 | 1 | |
| * | 5OTHhit-es--Q6481 | Hitachi | 日立ｱﾌﾟﾗｲｱﾝｽ | ES-76LH | other: Thermal shock tester | 冷熱衝撃試験装置 | 2007 | 1 | |
| * | 5OTHhit-mi--E9405 | Hitachi Power Solutions | 日立パワーソリューションズ | mi-scopeMI-25 | OTH:Ultrasonic imaging equipment | 超音波探査映像装置（USI） | 1997 | 1 | |
| * | 5OTHima-svf-E11059 | IMADA | 今田製作所 | SVF-500NA-SL | OTH:Tensile and Compression Testing | 引張圧縮試験機 | 2004 | 1 | |
| * | 5OTHinq-el1-L11107 | inq. | inq. | EL140 | OTH:EL Tester | ELテスタ | inq. | 1 | |
| * | 5OTHinq-inq-A0924 | Inq. | Inq. | Inq. | Other: RPT | RPT | 2013 | 1 | |
| * | 5OTHinq-inq-A0930 | Inq. | Inq. | Inq. | Other: Cleaning device | 洗浄装置 | 2010 | 1 | |
| * | 5OTHinq-inq-A0931 | Inq. | Inq. | Inq. | Other: Storage facility | 貯蔵設備 | 2013 | 1 | |
| * | 5OTHinq-inq-K6044 | Inq. | Inq. | Inq. | other: Depth Gauge | 深度測定器 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHinq-inq-Q13853 | Inq. | Inq. | Inq. | other: Powder Weighing Machine | 計量部屋（粉体計量） | 2019 | 1 | |
| * | 5OTHinq-inq-S0970 | Inq. | Inq. | Inq. | Other: Performance Board | パフォーマンスボード | 1991 | 1 | |
| * | 5OTHinq-jtx-A0922 | Inq. | Inq. | JTXBJ-075 | Other: Inq. | 補修機 | 2010 | 1 | |
| * | 5OTHinq-lta-Q0155 | Inq. | Inq. | LTA-330A | Other: Wafer Lifetime Measuring/5in. | ライフタイム測定器/5in. | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHinq-sv7-E14081 | Inq. | Inq. | SV7962 | other: Tester | テスタ | 2000 | 1 | |
| * | 5OTHiso-ven-L0447 | Isothermal | Isothermal | VENUS 125B | Other: Thermometer Calibrator | 温度計校正器 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHite-ap--Q9490 | iTEC | アイテック | AP-20-3S-OP/AP-20-3S-BT | OTH:OP tester | 高温OP試験用装置 | 2004 | 2 | |
| * | 5OTHjad-lpw-V3938 | JADEVER | JADEVER | LPWN-1530 | Other: Elec. Balance For Analysis | 電子天秤 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHkey-im--P15084 | Keyence | キーエンス | IM-7020 | other: Image Dimension Measurement System | 画像測定器 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHkey-lc--E10774 | Keyence | キーエンス | LC-2101 | OTH:laser displacement meter | レーザー変位計 | inq | 1 | |
| * | 5OTHkey-lc--E10775 | Keyence | キーエンス | LC-2210 | OTH:laser displacement meter | レーザー変位計 | inq | 1 | |
| * | 5OTHkey-md--Q14406 | Keyence | キーエンス | MD-U series | other: UV laser marker | UVレーザーマーカー | Inq. | 2 | |
| * | 5OTHkey-sr--Q14402 | Keyence | キーエンス | SR-2000 | other: QR Code Reader | QRコードリーダー | Inq. | 8 | |
| * | 5OTHkik-tso-Q13790 | Kikusui | 菊水 | TSO8850 | other: Mega pressure gauge | メガ耐圧計 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHkoh-k2--Q10897 | Kohzu | 神津精機(株) | K2-200 | OTH:Flatness measuring | 平面度測定器 | inq. | 1 | |
| * | 5OTHkok-cx1-K11685 | Kokusai electric | 国際電気 | CX1204 | oth: Exhaust Controller | 排気コントローラ | 1994 | 1 | |
| * | 5OTHkur-mic-Q8282 | Kurashiki kako | 倉敷化工 | MICRO-ｇ | Other: surface plate | 空気ばね除振台付き石定盤 | 1991 | 1 | |
| * | 5OTHly--inq-L0570 | LY-MI | LY-MI | Inq. | Other: Blank Sorter | ブランク分類装置 | 2007 | 1 | |
| * | 5OTHly--inq-L0571 | LY-MI | LY-MI | Inq. | Other: Blank Sorter | ブランク分類装置 | 2008 | 1 | |
| * | 5OTHmat-mmt-C0909 | Matsuzawa | マツザワ | MMT-X7A | Other: Hardness Tester | 微小硬さ試験機 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHmau-181-Q7505 | MAURY MICROWAVE | MAURY MICROWAVE | 1819B | Oth: Stub tuner | スタブ チューナー | 2005 | 1 | |
| * | 5OTHmau-804-Q7395 | MAURY MICROWAVE | MAURY MICROWAVE | 8045C | Oth: Slide screw tuner | スライドスクリューチューナー | Inq. | 2 | |
| * | 5OTHmei-ms--W0981 | MEISHO | メイショー | MS-9000GTIR | Other: BGA Rework Station | BGAリワーク装置 | 2011 | 1 | |
| * | 5OTHmic-inq-E7100 | Michinokumachinery | みちのくマシナリー | Inq. | Other: strength tester | 強度テスター | 2008 | 1 | |
| * | 5OTHmic-mmd-Q7524 | Micronix | マイクロニクス | MMD850 | oth: Microwave detector | マイクロ波検波器 | 2005 | 1 | |
| * | 5OTHmic-mt3-Q10038 | Microtrac | マイクロトラック | MT3100II/SDC | OTH:Particle size distribution analyzer | 粒度系分布測定装置 | 2016 | 1 | |
| * | 5OTHmin-zhl-Q7399 | MINI-CIRCUITS | MINI-CIRCUITS | ZHL-4240 | Oth: High frequency amplifier | 高周波アンプ | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHmis-msn-Q10787 | MISUMI | ミスミ | MSND2.3-30 | OTH:Temperature Sensor | ｵﾝﾄﾞｾﾝｻ | inq | 1 | |
| * | 5OTHmis-msn-Q10790 | MISUMI | ミスミ | MSND2.3-30 | OTH:Temperature Sensor | ｵﾝﾄﾞｾﾝｻ | inq | 1 | |
| * | 5OTHmit-cd--E10777 | Mitutoyo | ミツトヨ | CD-45C | OTH:vernier calipers | ノギス | inq | 1 | |
| * | 5OTHmit-id--R0172 | MITUTOYO | ミツトヨ | ID-C112C | Other: Digimatic Indicator | デジマチックインジケータ | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHmit-inq-L0497 | Mitutoyo | ミツトヨ | Inq. | Other: Cage Block | ケージブロック | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHmit-inq-M9533 | MITUTOYO | ミツトヨ | inq. | OTH:CNC VISION MEASURING SYSTEM | CNC画像測定システム | inq. | 1 | |
| * | 5OTHmiy-inq-Q14935 | Miyake densi | KKミヤケ電子 | Inq. | other: Intermittent power supply device | 断続通電装置 | 2011 | 2 | |
| * | 5OTHmt/-inq-Q7356 | MT/Hitachi-hitech | MT/日立ハイテクマテリアルズ | Inq. | Other: EEPROM meas. board | F2用EEPROM評価ボード | 2010 | 1 | |
| * | 5OTHmur-hm--Q9884 | Murakamishikisaigijutsu | 村上色彩技術研究所 | HM-150 | OTH:haze meter | ヘーズメーター | inq | 2 | |
| * | 5OTHnag-nrs-Q14410 | Nagahama | 長浜製作所 | NRSOB | other: Balancing machine | バランシングマシン | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHnar-375-Q7500 | NARDA | NARDA | 3752 | Oth: PHASE SHIFTER | PHASE SHIFTER | 2005 | 1 | |
| * | 5OTHnf-165-Q7499 | NF | エヌエフ回路設計ブロック | 1650 | Oth: Pattarn synthesizer | 任意パターンシンセサイザ | 1994 | 1 | |
| * | 5OTHnf-ck1-Q7382 | NF | エヌエフ回路設計ブロック | CK1620 | Oth: Clock synthesizer | クロックシンセサイザ | Inq. | 2 | |
| * | 5OTHnf-ck1-Q7424 | NF | エヌエフ回路設計ブロック | CK1615 | Oth: Clock synthesizer | クロックシンセサイザ | Inq. | 2 | |
| * | 5OTHnf-es2-Q7393 | NF | エヌエフ回路設計ブロック | ES2000B | Oth: Power environment simulator | 電源環境シミュレータ | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHnf-es2-Q7394 | NF | エヌエフ回路設計ブロック | ES2000S | Oth: Power environment simulator | 電源環境シミュレータ | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHnih-rw--L0471 | Nihon Koshuha | 日本高周波 | RW-1000E | Other: High-freq. Induction Heating | 高周波誘導加熱 | Inq. | 2 | |
| * | 5OTHnik-6d-L0779 | Nikon | ニコン | 6D | Other: Autocollimator | オートコリメータ | Inq. | 2 | |
| * | 5OTHnik-n-s-Q14747 | Nikon | ニコンインステック | N-SISV-R | oth: Light Source | 光源装置 | 2012 | 1 | |
| * | 5OTHnik-v-1-K10431 | Nikon | 株式会社ニコン | V-12 | OTH:projector | 万能投影機 | 1985 | 1 | |
| * | 5OTHnik-v-1-T0982 | Nikon | ニコン | V-12 | Other: Projector | 投影機 | 1987 | 1 | |
| * | 5OTHnik-vmr-P14567 | Nikon | ニコン | VMR-3020 | other : CNC Video measuring microscope | 三次元CNC画像測定器 | 2006 | 1 | |
| * | 5OTHnsk-hm--P6424 | NSK | NSK | HM-90 | other: Micron Depth Tester | デプステスタ | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHoga-grt-Q9442 | Ogasawara Precision | 小笠原プレシジョン | GRT-04 | OTH:Gear Meshing Tester | 歯車噛合試験機 | inq. | 1 | |
| * | 5OTHoha-ex2-Q8488 | OHAUS | OHAUS | EX2202G | oth: Electronic scale | 電子天秤 | Inq. | 2 | |
| * | 5OTHoly-um--B14615 | Olympus | オリンパス | UM-LPS100 | other: Inq. | Inq. | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHoly-um--B14616 | Olympus | オリンパス | UM-CS1 | other: Inq. | Inq. | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHomr-v40-Q14140 | Omron | オムロン | V400-H1111-1 | other: Handheld 2D Code Reader | ハンドヘルド型２次元コードリーダー | 2013 | 2 | |
| * | 5OTHors-aos-Q10044 | ORSA | ORSA | AOS303-445-30 | OTH:Single-mode fiber blue light source | シングルモードファイバ青色光源 | 2016 | 1 | |
| * | 5OTHors-hpb-Q10045 | ORSA | ORSA | HPB455-3 | OTH:Multimode Fiber Blue Light Source | マルチモードファイバ青色光源 | 2016 | 1 | |
| * | 5OTHosu-os--H15328 | OSUNG | OSUNG | OS-OVN11-BK01W | other: OVEN | OVEN | 2005 | 1 | |
| * | 5OTHots-qe2-Q10039 | Otsuka | 大塚電子 | QE2100 | OTH:Quantum Effect Measurement System | 量子効果測定システム | 2016 | 1 | |
| * | 5OTHoyo-ait-E10059 | OYO | 応用電機 | AITOS | OTH:Light Source | 光源装置 | inq | 3 | |
| * | 5OTHoyo-aw1-E10078 | OYO | 応用電機 | AW1050 | OTH:light source | 光源 | inq | 1 | |
| * | 5OTHoyo-aw1-K6195 | OYO | 応用電機 | AW1050 | other: Light Source | 光源装置 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHpan-pan-B8176 | Panasonic | Panasonic | Panadac944A-210 | Other: Coplanarity check system | 共面性チェックシステム | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHpea-ac--L0778 | Pearl | パール光学 | AC-140F | Other: Autocollimator | オートコリメータ | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHpei-el--L11110 | Peide | Peide | EL-1.4MD-AS | OTH:EL Tester | ELテスタ | inq. | 1 | |
| * | 5OTHpfe-hlt-A13207 | Pfeiffer Vacuum | ファイファーバキューム | HLT570 | other: Helium Leak Detector | ヘリウムリークディテクタ | 2008 | 1 | |
| * | 5OTHphi-ir3-A0581 | Philips | Philips | IR3100 | Other: Wafer Infrared Depth Measuring Instrument/12in. | ウエハ赤外線深度測定機/12in. | Inq. | 2 | |
| * | 5OTHpro-inq-Q7365 | Production Technology Center Kyushu | プロダクションテクノロジーセンター九州 | Inq. | Other: Substrate strength tester | 基板強度評価試験機 | 2008 | 1 | |
| * | 5OTHpro-mtg-Q9540 | PROTEC | プロテック | MTG-08A | OTH:Metal mask tension gauge | メタルマスクテンションゲージ | inq. | 1 | |
| * | 5OTHqui-820-L11111 | Quicksun | Quicksun | 820A | OTH:Power Simulation Test | パワーシミュレーションテスター | inq. | 1 | |
| * | 5OTHrig-300-Q15168 | Rigaku | リガク | 300Fab | other: TXRF/12in. | TXRF/12in. | 2007 | 1 | |
| * | 5OTHrob-ro--E5006 | ROBERT | ROBERT | RO-27 | Other: Aging machine | エージング装置 | 2001 | 3 | |
| * | 5OTHroh-inq-Q7398 | Rohde & Schwarz | ローデ＆シュワルツ | Inq. | Oth: Radio tester | 無線機テスタ | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHsan-inq-R0340 | SANWA | 三和無線測器 | Inq. | Other: TDDB Probe Station | TDDB評価装置 | 1996 | 1 | |
| * | 5OTHsan-sc--Q10742 | SANYU | サンユー電子 | SC-701C | Other: Carbon Coater | カーボンコーター | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHsan-sdc-L0416 | Sansei | Sansei | SDC-1040 | Other: Digital comparator | デジタルコンパレータ | Inq. | 5 | |
| * | 5OTHsan-ss--L0477 | Sansei | Sansei | SS-868E | Other: Universal Crossing Counter | ユニバーサルカウンタ | Inq. | 3 | |
| * | 5OTHsar-cp2-K9969 | Sartorius | ザルトリウス | CP224S | OTH:electronic balance | 電子天秤 | inq | 1 | |
| * | 5OTHsem-faa-Q12788 | Semiconductor Diagnostics Inc | Semiconductor Diagnostics Inc | FAaST 230-SPV | other: SPV measuring | SPV装置 | 2008 | 1 | |
| * | 5OTHsem-wt--R0338 | SEMILAB | SEMILAB | WT-85 | Other: Life time measuring | ライフタイム測定装置 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHshi-ap2-Q14139 | Shimadzu | 島津製作所 | AP225WD | oth: Electronic scale | 電子天秤 | 2017 | 1 | |
| * | 5OTHshi-auy-Q12823 | SHIMADZU | 島津製作所 | AUY200 | other: Analytical Balance | 天秤 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHshi-ay2-Q13803 | Shimadzu | 島津製作所 | AY220 | other: Precision balance | 精密天秤 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHshi-ehf-E7281 | Shimazu | 島津製作所 | EHF-FB10KN-10LA | Other: Servo Parsa | サーボパルサ | 2000 | 1 | |
| * | 5OTHshi-ez -Q12999 | Shimadzu | 島津製作所 | EZ Graph | other: Compact tabletop tester | 小型卓上試験機 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHshi-mse-K1419 | Shimadzu | 島津製作所 | MSE-4000 | Other: Leak Detector/He | リークディテクタ/He | 1998 | 1 | |
| * | 5OTHshi-mst-A5427 | SHIMADZU | 島津製作所 | MST-I | other: Micro Autograph | 微小強度評価試験機 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHshi-uv2-E10780 | SHINDAIGO | SHINDAIGO | UV225 | OTH:vacuum packaging machine | 簡易ガス充填卓上型真空包装機 | inq | 1 | |
| * | 5OTHsig-inq-Q10043 | SIGMA KOKI | シグマ光器 | inq | OTH:Auto-rotating stages and controllers | 自動回転ステージとコントローラ | 2021 | 1 | |
| * | 5OTHsig-sgs-Q9959 | Sigma Koki | シグマ光機 | SGSP20-20+SHOT202 | OTH:Autostage+ stage controller | 自動ステージ+ステージコントローラ | inq | 3 | |
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