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| TTC ID | Maker | メーカー | 型式 | Description | 品名・仕様 | 年式 | 台数 | 対応製品 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| * | 5SEMfei-db2-P11765 | FEI | FEI | DB235 | sem: Focused Ion Beam System | 集束イオンビーム装置 | Inq. | 2 | |
| * | 5SEMfei-exp-P14459 | FEI | FEI | EXPIDA1265 | SEM: Wafer DualBeam | 集束イオンビーム装置 | Inq. | 1 | |
| * | 5SEMfei-fib-P11766 | FEI | FEI | FIB 800 | sem: Focused Ion Beam System | 集束イオンビーム装置 | Inq. | 1 | |
| * | 5SEMfei-v46-P5361 | FEI | FEI | V460L | SEM (Scanning Electron Microscope) | SEM(走査電子顕微鏡) | 2016 | 1 | |
| * | 5SEMfei-ver-A9993 | FEI | FEI | Verios 460L | SEM/Scanning Electron Microscope | SEM | 2016 | 1 | |
| * | 5SEMhit-s-2-E9402 | Hitachi | 日立ハイテク | S-2300 | SEM:Scanning electron microscope | 走査線電子顕微鏡 | 1988 | 1 | |
| * | 5SEMhit-s-2-Q9957 | Hitachi | 日立 | S-2600N | SEM/Scanning electron microscope | 走査電子顕微鏡（SEM） | 2003 | 1 | |
| * | 5SEMhit-s-3-Q8841 | HITACHI | 日立 | S-3000H | SEM | 電子顕微鏡 | 2003 | 1 | |
| * | 5SEMhit-s-4-A12656 | HITACHI | 日立 | S-4500 | SEM/5in | SEM/5in | Inq. | 1 | |
| * | 5SEMhit-s-4-A15343 | Hitachi | 日立 | S-4700 | sem :FE-SEM | FE-SEM | Inq. | 1 | |
| * | 5SEMhit-s-5-F12827 | Hitachi | 日立 | S-5200 | SEM/FE-SEM | FE-SEM | Inq. | 1 | |
| * | 5SEMjoe-jem-A4594 | JOEL | 日本電子 | JEM-2100F | sem: TEM | 電界放出形透過電子顕微鏡 | 2016 | 1 | |
| * | 5SEMtop-sm--H5209 | TOPCON CORP. | TOPCON CORP. | SM-200 | SEM (Scanning Electron Microscope) | SEM(走査電子顕微鏡) | 2001 | 1 |
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