トラストが提供可能テスト関連性はウエハーテスト（Chip　Probing )、最終検査（Final Test）、パラメトリックテストがあります。

更にテスト内容によって、おおよそ、温度・速度・動作から違います。

温度に特化したテストは、高温テスト、定温テスト、室温テストがあります。　

速度に特化したテストは、コアテスト、速度テストがあります。

動作に特化したテストは、DCテスト、ACテスト、機能テストがあります。　

1,テスター

ロセスの中で、最も大事なのはテスターであり、テスターは集積回路（半導体デバイス）の製造工程において、性能等を試験し良品と不良品の選別を行う装置です。

メモリー（フラッシュメモリーNAND型とNOR型、DRAM）主なメーカー：アドバンテスト、テラダイン、SoC（System on Chip）、ロジック（Logic）、ミックスドシグナル（Mixed-Signa）向け主なメーカー：アドバンテスト、テラダイン、Cohu（LTX　Credence）、横河、シバソク、

Chroma、Accotech、YTECなど

イメージセンサー（CMOS Image Sensor/ Charge-Coupled Device）向け：アドバンテスト、テラダイン、応用電機など

光センサー関連のイメージセンサーは、テラダイン、アドバンテストの専用型番を在庫になっております。

LCDドライバー向け：アドバンテスト＆横河も持っています。

半導体パワーデバイス向けのテセック、横河、CATSなど装置も紹介可能です。　

パラメトリックテストは、主にアドバンテスト（Keysight）、ケースレーを取り扱っています。

2,プローバ

半導体の製造過程において、ウェーハー上のチップの電気特性を検査するための装置です。

ウエハーテストに使われるプローバに関して、仕様から見ると6インチ（以下）、8インチ、12インチの常温/高温/低温機能付きの装置を常に揃っています。

特に市場シェア率高いメーカー：東京精密、東京エレクトロン、EG、Semicsなどをご紹介可能です。最近、化合物半導体向けの高電圧・大電流プローバ（TSK、TEL、EG）を改造も可能になりました。

3,テストハンドラ（ICハンドラ）

Final Testに使われるICハンドラは、半導体デバイスを性能評価や良否判定をするために使用する搬送装置です。

ロジックデバイス（BGA、CSP、QFP、QFN）はセイコーエプソン、アドバンテスト、横河、テセック、上野が持っています。

更に海外メーカー：SRM、ASM、Ismega、Rasco、Cohu、STI、Multitestなどをご紹介可能です。

メモリー向けの（SOP、SOPP、BGA、WLCSP）はアドバンテスト、Hontec、セイコーエプソンなどを取り扱っています。

4,レーザーリペア

欠陥箇所にレーザーを照射し画素電極の加工や配線の遮断、配向膜の加工や除去、異物の除去などを行う装置です。

主に利用されているメーカー：ESI、GSI、ダイトロンです。

５,バーンイン試験機

電子機器の寿命や信頼性をチェックするために、一定時間の間、高負荷状態で動作させる装置です。
主に利用されているメーカー：藤田製造所、山田電音、WINTEST、ESPEC、STKなど